Demonstração Prática CIQTEK FIB-SEM - Preparação de Amostras TEM
FIB-SEM pode ser usado para diagnóstico de defeitos, reparo, implantação de íons, processamento in-situ, reparo de máscara, gravação, modificação de projeto de circuito integrado, produção de dispositivos de chip e processamento sem máscara de circuitos integrados em grande escala. Produção de nanoestruturas, processamento complexo de nanopadrões, imagens tridimensionais e análise de materiais, análise de superfície ultra-sensível, modificação de superfície e preparação de amostras de microscopia eletrônica de transmissão, etc. CIQTEK DB500 é um microscópio eletrônico de varredura de emissão de campo (FE-SEM) com uma coluna de feixe de íons focados (FIB) para nanoanálise e preparação de amostras, que é aplicado com tecnologia de óptica eletrônica “SuperTunnel”, baixa aberração e lente objetiva livre de magnetismo design, com capacidade de baixa tensão e alta resolução que garante sua capacidade analítica em nanoescala. A coluna de íons facilita uma fonte de íons metálicos líquidos Ga+ com um feixe de íons altamente estável e de alta qualidade para garantir capacidade de nanofabricação. O DB500 possui um nanomanipulador integrado, sistema de injeção de gás, mecanismo elétrico anticontaminação para a lente objetiva e 24 portas de expansão, tornando-o uma plataforma versátil de nanoanálise e fabricação com configurações abrangentes e capacidade de expansão. Para demonstrar o excelente desempenho do DB500 aos usuários, a equipe de Microscopia Eletrônica planejou especialmente o programa especial "CIQTEK FIB Show", que apresentará a ampla gama de aplicações nas áreas de ciência de materiais, indústria de semicondutores, biomedicina, etc. em forma de vídeo. O público compreenderá o princípio de funcionamento do DB500, apreciará as impressionantes imagens microscópicas que ele captura e explorará profundamente a importância desta tecnologia para a pesquisa científica e o desenvolvimento industrial. Preparação de amostra TEM Neste episódio, mostraremos como o DB500 pode preparar amostras de microscópio eletrônico de transmissão (TEM) com eficiência e precisão. Como você pode ver no vídeo, o DB500 prepara amostras TEM com operação simples, poucas etapas de pré-processamento, baixos custos de aprendizado e testes eficientes; pode obter cortes precisos em micro e nanoescala em pontos fixos, com tamanho controlável e espessura uniforme, e é adequado para uma variedade de análises de microscopia e espectroscopia microscópica; e a integração de corte, imagem e análise pode ser alcançada.
