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Baixa tensão e alta resolução
Alta estabilidade
Detector de elétrons na lente

*Trava de carga para troca de amostra (compatível com 8 polegadas)
Deflexão do feixe eletromagnético com abertura multifuro
Excelente capacidade de expansão

â¶ Óptica Eletrônica

â Tecnologia de coluna óptica eletrônica "Super Tunnel"/desaceleração do feixe na lente
Diminui o efeito de carregamento espacial, garantindo resolução de baixa tensão.

â Sem cruzamento no caminho do feixe de elétrons
Reduz efetivamente as aberrações da lente e melhora a resolução.

â Lente objetiva composta eletromagnética e eletrostática
Reduz as aberrações, melhora significativamente a resolução em baixas tensões e permite a observação de amostras magnéticas.

â Lente objetiva de temperatura constante resfriada a água
Garanta a estabilidade, confiabilidade e repetibilidade da operação da lente objetiva.

â Abertura variável de múltiplos furos com sistema de deflexão de feixe eletromagnético
Troca automática entre aberturas sem movimento mecânico, permitindo troca rápida entre modos de imagem.

â¶ Modo ECCI baseado em BSED (Electron Channeling Contrast Imaging)

O "efeito de canalização de elétrons" refere-se a uma redução significativa no espalhamento de elétrons pelas redes cristalinas, quando o feixe de elétrons incidente satisfaz a condição de difração de Bragg, permitindo que um grande número de elétrons passe através da rede, exibindo assim uma "canalização" efeito.

Para materiais policristalinos com composição uniforme e superfícies planas polidas, a intensidade dos elétrons retroespalhados depende da orientação relativa entre o feixe de elétrons incidente e os planos do cristal. Grãos com maior variação de orientação exibem sinais mais fortes, portanto imagens mais brilhantes, a caracterização qualitativa com tal mapa de orientação de grãos é alcançada.

Ligas impressas em 3D (preparadas com polimento por feixe de íons)
Aço inoxidável (preparado com polimento por feixe de íons)

â¶ Imagens multicanais simultâneas por meio de vários detectores

Uma ótima resolução foi alcançada em características topográficas de superfície com imagens de detector de elétrons na lente
Boas imagens estereoscópicas de características morfológicas com imagens do detector Everhart-Thornley
Imagem de contraste de número atômico (contraste Z) com imagem de detector de elétrons retroespalhados retrátil

â¶ Detector retrátil de microscopia eletrônica de transmissão de varredura (STEM)

FESEM Retractable Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM) Detector

Vários modos de operação: Imagem de campo claro (BF), Imagem de campo escuro (DF), Imagem de campo escuro anular de alto ângulo (HAADF)

Imagem de campo claro de seção de planta (STEM-BF)
Imagem de campo escuro de seção de planta (STEM-DF)
Imagem de contraste de número atômico (contraste Z) com detector de elétrons retroespalhados retrátil

â¶ Avanços na microscopia eletrônica CIQTEK - Mais opções

Espectrometria Dispersiva de Energia

Catoluminescência

EBSD

Galeria de imagens do microscópio CIQTEK FESEM SEM5000Pro

Ciência dos Materiais - Nanomateriais

Material bidimensional não condutor C3N4, caracterização não destrutiva de sua estrutura de camada fina sob condições de baixa tensão a 500 V
Imagem de espuma de níquel com forte efeito tridimensional usando uma tensão de excitação de 2 kV com Detector Everhart-Thornley (ETD)
Imagem de pó de prata subnanômetro usando um detector de elétrons na lente a 3 kV sob condições de alto vácuo

Ciência dos Materiais - Materiais Energéticos

Precursor de cátodo de bateria de íons de lítio - fosfato de ferro com baixa condutividade, fotografado usando um detector de elétrons na lente (na lente) sob condições de baixa tensão (1 kV)
A qualidade da metalização da superfície de wafers de silício fotovoltaicos, fotografada usando um detector Everhart-Thornley montado em câmara (ETD) a 2 kV
Filme SEI (Solid Electrolyte Interphase) de superfície no eletrodo negativo com falha, fotografado sob condições de alto vácuo usando um detector de elétrons na lente (na lente) a 3 kV

Ciência dos Materiais - Materiais Poliméricos e Materiais Metálicos

Uso do detector Everhart-Thornley (ETD) sob condições de alto vácuo e baixa tensão (1 kV) para obter imagens da morfologia de microesferas de poliestireno. Nenhum fenômeno de carga foi observado, resultando em uma forte percepção tridimensional
Imagem não destrutiva de 500 V de fibras de membrana de polímero de bateria de íon de lítio sob condição sensível à superfície
$sem image analysis High-resolution imaging of nano-sized precipitates in fracture surfaces using the Retractable Back-Scattered Electron Detector(BSED)$
Imagem de alta resolução de precipitados de tamanho nanométrico em superfícies de fratura usando o detector retrátil de elétrons retroespalhados (BSED)

Materiais Magnéticos - Materiais poliméricos e materiais metálicos

Grânulos magnéticos de polímero, com baixa condutividade, caracterizados usando baixa tensão a 2 kV com detector Everhart-Thornley (ETD) para a caracterização da entrega de medicamentos biologicamente direcionados
$sem image analysis 10 kV imaging with Everhart-Thornley Detector (ETD) used to characterize the fracture surface of iron-nickel alloy metal.$
Imagens de 10 kV com detector Everhart-Thornley (ETD) foram usadas para caracterizar a superfície de fratura de liga metálica de ferro-níquel
Grânulos magnéticos de polímero, caracterizados usando um detector Everhart-Thornley (ETD) de baixa tensão de 2 kV, exibem uma forte sensação de tridimensionalidade

Materiais semicondutores

Imagem dos padrões de superfície e circuitos em um chip usando um detector retrátil de elétrons retroespalhados (BSED)
Caracterização do detector Everhar t-Thornley (ETD) de baixa tensão (2 kV) das texturas da superfície e da borda do furo de um fotorresistente
Imagem das juntas de solda de fios de ouro em um chip usando um detector retrátil de elétrons retroespalhados (BSED). Amostra preparada com polimento por feixe de íons

Ciências da Vida

Caracterização de iridóforos em células da pele de lagarto, usando o detector STEM no CIQTEK SEM5000Pro FE-SEM.

As cores dos animais na natureza podem ser classificadas em duas categorias com base em seus mecanismos de formação: cores pigmentares e cores estruturais.
As cores dos pigmentos são obtidas por meio de variações na composição dos pigmentos e da sobreposição de cores, semelhantes aos princípios das "cores primárias".
As cores estruturais, por outro lado, são geradas através da reflexão da luz de diferentes comprimentos de onda por intrincadas estruturas fisiológicas, baseadas principalmente em princípios da óptica. Os iridóforos, encontrados nas células da pele dos lagartos, possuem estruturas semelhantes às redes de difração. Referimo-nos a essas estruturas como “placas cristalinas”. As placas cristalinas podem refletir e espalhar luz de diferentes comprimentos de onda. Estudos demonstraram que, variando o tamanho, o espaçamento e o ângulo das placas cristalinas nos iridóforos dos lagartos, os comprimentos de onda da luz espalhada e refletida pela pele podem ser alterados. Esta descoberta é significativa para a compreensão dos mecanismos por trás da mudança de cor na pele do lagarto.

â¶ Software de análise de partículas e poros (partículas) *Opcional

SEM Particle & Pore Analysis Software (Particle)

O software CIQTEK SEM Microscope emprega vários algoritmos de detecção e segmentação de alvos, adequados para diferentes tipos de amostras de partículas e poros. permite a análise quantitativa de estatísticas de partículas e poros e pode ser aplicado em áreas como ciência dos materiais, geologia e ciências ambientais.

â¶ Software de pós-processamento de imagem *Opcional

SEM Microscope Image Post-processing Software

Realize pós-processamento de imagem on-line ou off-line em imagens capturadas por microscópios eletrônicos e integre funções de processamento de imagem EM comumente usadas, medição conveniente e ferramentas de anotação.

â¶ Medição automática *Opcional

Reconhecimento automático das bordas da largura da linha, resultando em medições mais precisas e maior consistência. Suporta vários modos de detecção de bordas, como Linha, Espaço, Pitch, etc. Compatível com vários formatos de imagem e equipado com várias funções de pós-processamento de imagem comumente usadas. O software é fácil de usar, eficiente e preciso.

â¶ Kit de desenvolvimento de software (SDK) *Opcional

SEM Microscope Software Development Kit (SDK)

Forneça um conjunto de interfaces para controlar o microscópio SEM, incluindo aquisição de imagem, configurações de condições operacionais, ligar/desligar, controle de estágio, etc. Definições concisas de interface permitem o rápido desenvolvimento de scripts e software específicos de operação de microscópio eletrônico, permitindo rastreamento automatizado de regiões de interesse, aquisição de dados de automação industrial, correção de desvio de imagem e outras funções. Pode ser usado para desenvolvimento de software em áreas especializadas, como análise de diatomáceas, inspeção de impurezas de aço, análise de limpeza, controle de matérias-primas, etc.

â¶ AutoMap *Opcional

Microscópio CIQTEK FESEM SEM5000Pro no Campus Ulsan, Universidade Politécnica da Coreia
Nossos clientes coreanos instalaram com sucesso o FESEM SEM5000 no Campus Ulsan. É amplamente considerado um dos SEMs mais avançados da atualidade. (Vídeo incluído)

Leia mais

CIQTEK FESEM SEM5000Pro no campus Ulsan da Universidade Politécnica

Especificações do microscópio CIQTEK FESEM SEM5000Pro
Óptica Eletrônica	Resolução	0,8 nm a 15 kV, SE 1,2 nm a 1,0 kV, SE
	Tensão de aceleração	0,02kV ~ 30kV
	Ampliação (Polaroid)	1 ~ 2.500.000 x
	Tipo de arma eletrônica	Pistola de elétrons de emissão de campo Schottky
Câmara de Amostras	Câmera	Câmeras duplas (navegação óptica + monitor de câmara)
	Câmera	Câmeras duplas (navegação óptica + monitor de câmara)
	Faixa de Estágio	X: 110mm, Y: 110mm, Z: 50mm T: -10°ï½ +70°, R: 360°
Detectores e extensões SEM	Padrão	Detector de elétrons Inlens Detector Everhart-Thornley (ETD)
Detectores e extensões SEM	Opcional	Detector retrátil de elétrons retroespalhados (BSED) Microscópio eletrônico de transmissão de varredura retrátil (STEM) Detector de baixo vácuoï¼LVDï¼ Espectroscopia Dispersiva de Energia (EDS/EDX) Padrão de difração de retroespalhamento de elétrons (EBSD) Loadlock de troca de amostra ï¼4 polegadas /8 polegadas) Painel de controle do trackball e botão
Software	Idioma	Inglês
	Sistema operacional	Janelas
	Navegação	Navegação Óptica, Navegação Rápida por Gestos, Trackball (opcional)
	Funções automáticas	Brilho e contraste automáticos, foco automático, estigma automático