scanning electron microscope machine

Filamento de tungstênio SEM | SEM3200

Microscópio SEM de filamento de tungstênio universal e de alto desempenho

O microscópio SEM CIQTEK SEM3200 é um excelente microscópio eletrônico de varredura (SEM) de filamento de tungstênio de uso geral com excelentes capacidades gerais. Sua estrutura exclusiva de canhão de elétrons de ânodo duplo garante alta resolução e melhora a relação sinal-ruído da imagem em baixas tensões de excitação. Além disso, oferece uma ampla gama de acessórios opcionais, tornando o SEM3200 um instrumento analítico versátil com excelentes recursos.

ⶠEstrutura de ânodo duplo no canhão de elétrons *Opcional

sem3200 Intermittent Anode

Ânodo Intermitente

O ânodo intermitente é instalado entre o conjunto do cátodo e o ânodo. Sob baixa tensão de excitação, a eficiência de extração do feixe de elétrons pode ser melhorada, a resolução pode ser aumentada em 10% e a relação sinal-ruído pode ser aumentada em 30%.

  • carbon material samples under low excitation voltages
  • carbon material samples under low excitation voltages

Para amostras de material de carbono, sob baixas tensões de excitação, a profundidade de penetração do feixe é rasa, permitindo a captura da verdadeira informação da morfologia da superfície com detalhes mais ricos da amostra.

  • polymer fiber samples, high excitation voltages
  • polymer fiber samples, high excitation voltages

Para amostras de fibra de polímero, altas tensões de excitação causam danos ao feixe na amostra, enquanto o feixe de baixa tensão permite a preservação dos detalhes da superfície sem danos.


ⶠModo SEM de baixo vácuo

O microscópio SEM CIQTEK SEM3200 suporta modos de baixo vácuo de 2 estágios: a pressão da câmara de 5 ~ 180 Pa pode ser alcançada sem abertura limitadora de pressão e 180 ~ 1000 Pa é alcançável com PLA. A câmara de vácuo da lente objetiva especialmente projetada minimiza o caminho livre médio dos elétrons em baixo vácuo e mantém a resolução em 3 nm a 30 kV.

O feixe de elétrons incidente ioniza as moléculas de ar no topo da superfície, produzindo elétrons e íons, nos quais os íons neutralizam as partículas carregadas geradas na superfície da amostra, alcançando o efeito de mitigação de carga.

  • SEM3200 Analysis Image
  • SEM3200 Analysis Image

A emissão de elétrons secundários da superfície da amostra ioniza as moléculas de ar, gerando elétrons, íons e sinais fotográficos simultaneamente. Os elétrons gerados então ionizam outras moléculas de ar e um grande número de sinais fotográficos são produzidos e então capturados por um Detector de Baixo Vácuo (LVD).

  • SEM Microscope sem3200
  • SEM Microscope sem3200 Analysis image

No modo de alto vácuo, o LVD detecta diretamente o sinal de catodoluminescência emitido pela amostra, que pode ser capturado para imagens de catodoluminescência, com imagens simultâneas do canal BSED.


ⶠNavegação óptica

Usar uma câmera de câmara montada verticalmente para capturar imagens ópticas para navegação no estágio da amostra permite um posicionamento mais intuitivo e preciso da amostra.

  • SEM Optical Navigation

â¶Correção inteligente de astigmatismo por imagem assistida

Neste modo, o valor do astigmatismo de X e Y varia com os pixels. A clareza da imagem é maximizada no valor ideal de astigmatismo, permitindo um ajuste rápido do estigma.

  • sem Intelligent Assisted Image Astigmatism Correction
  • sem Intelligent Assisted Image Astigmatism Correction


ⶠFunções automáticas

Funções de brilho e contraste automáticos aprimorados, foco automático e correção automática de astigmatismo. Imagens com um único clique!

Foco Automático

  • during autofocus
  • after autofocus

Correção Automática de Astigmatismo

  • during autofocus
  • after autofocus

Brilho e contraste automáticos

  • during autofocus
  • after autofocus

ⶠMais seguro de usar


ⶠFácil substituição de filamento

Módulo de filamento de substituição pré-alinhado pronto para uso.

ⶠSoftware de análise de partículas e poros (partículas) *Opcional

SEM Particle & Pore Analysis Software (Particle)

O software CIQTEK SEM Microscope emprega vários algoritmos de detecção e segmentação de alvos, adequados para diferentes tipos de amostras de partículas e poros. permite a análise quantitativa de estatísticas de partículas e poros e pode ser aplicado em áreas como ciência dos materiais, geologia e ciências ambientais.


ⶠSoftware de pós-processamento de imagem

SEM Microscope Image Post-processing Software

Realize pós-processamento de imagens on-line ou off-line em imagens capturadas por microscópios eletrônicos e integre funções de processamento de imagem EM comumente usadas, medição conveniente e ferramentas de anotação.


ⶠMedição automática *Opcional

SEM Microscope software Auto Measure

Reconhecimento automático das bordas da largura da linha, resultando em medições mais precisas e maior consistência. Suporta vários modos de detecção de bordas, como Linha, Espaço, Pitch, etc. Compatível com vários formatos de imagem e equipado com várias funções de pós-processamento de imagem comumente usadas. O software é fácil de usar, eficiente e preciso.


ⶠKit de desenvolvimento de software (SDK) *Opcional

SEM Microscope Software Development Kit (SDK)

Forneça um conjunto de interfaces para controlar o microscópio SEM, incluindo aquisição de imagem, configurações de condições operacionais, ligar/desligar, controle de estágio, etc. Definições concisas de interface permitem o rápido desenvolvimento de scripts e software específicos de operação de microscópio eletrônico, permitindo rastreamento automatizado de regiões de interesse, aquisição de dados de automação industrial, correção de desvio de imagem e outras funções. Pode ser usado para desenvolvimento de software em áreas especializadas, como análise de diatomáceas, inspeção de impurezas de aço, análise de limpeza, controle de matérias-primas, etc.


ⶠAutoMap *Opcional

  • during autofocus

Microscópio SEM CIQTEK SEM3200
Óptica Eletrônica Resolução 3 nm a 30 kV, SE
7 nm a 3 kV, SE
4 nm a 30 kV, BSE
3 nm a 30 kV, SE, 30 Pa
Tensão de aceleração 0,2kV ~ 30kV
Ampliação (Polaroid) 1 x ~ 300.000 x
Câmara de Amostras Baixo Vácuo 5 ~ 1000 Pa (opcional)
Câmera Navegação óptica
Monitoramento de Câmara
Tipo de estágio Motorizado compatível com vácuo de 5 eixos
Faixa XY 125mm
Faixa Z 50mm
Faixa T - 10° ~ 90°
Faixa R 360°
Detectores SEM Padrão Detector Everhart-Thornley (ETD)
Opcional Detector retrátil de elétrons retroespalhados (BSED)
Espectrômetro dispersivo de energia (EDS / EDX)
Padrão de difração retroespalhado de elétrons (EBSD)
Opcional Bloqueio de carregamento de troca de amostra
Painel de controle do trackball e botão
Interface do usuário Sistema operacional Janelas
Navegação Navegação óptica, navegação rápida por gestos, trackball (opcional)
Funções Automáticas Brilho e contraste automáticos, foco automático, estigma automático
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