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Ânodo duplo (tetrodo)
O design do sistema de emissão de ânodo duplo fornece excelente resolução sob baixa energia de pouso
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*Modo de baixo vácuo
Forneça informações sobre a morfologia da superfície da amostra em baixo vácuo, estado de vácuo comutável com um clique
(*Acessórios opcionais para microscópio SEM SEM3200)
Detectores SEM para SEM3200
O microscópio SEM é usado não apenas para observar a morfologia da superfície, mas também para analisar a composição de microrregiões na superfície da amostra.
O microscópio CIQTEK SEM SEM3200 possui uma grande câmara de amostras com uma interface extensa. Além de suportar detector convencional Everhart-Thornley (ETD), detector de elétrons retroespalhados (BSE) e espectroscopia de raios X por dispersão de energia (EDS/EDX), várias interfaces, como padrão de difração de retroespalhamento de elétrons (EBSD) e catodoluminescência (CL ) também são reservados.
Detector de elétrons retroespalhados SEM (BSE)
Comparação de imagens de elétrons secundários e imagens de elétrons retroespalhados
No modo de imagem eletrônica retroespalhada, o efeito de carga é significativamente suprimido e mais informações sobre a composição da superfície da amostra podem ser observadas.
Espécimes de chapeamento:
Amostras de liga de aço de tungstênio:
Detector de elétrons retroespalhados de quatro quadrantes - Imagem multicanal
O detector de microscópio SEM possui um design compacto e alta sensibilidade. Com o desenho de 4 quadrantes é possível obter imagens topográficas em diferentes direções, bem como imagens de distribuição de composição sem inclinar o corpo de prova.
Espectro de Energia
Resultados da análise do espectro de energia de pequenas esferas de LED.
Padrão de difração de retroespalhamento de elétrons SEM (EBSD)
O microscópio SEM SEM3200 com uma grande corrente de feixe atende totalmente aos requisitos de teste de EBSD de alta resolução e pode analisar materiais policristalinos, como metais, cerâmicas e minerais para orientação de cristal e análise de tamanho de grão.
A figura mostra o mapa de grãos EBSD da amostra de metal Ni, que pode identificar o tamanho e a orientação dos grãos, determinar os limites e gêmeos dos grãos e fazer avaliações precisas da organização e estrutura do material.
| Modelos de microscópio SEM |
SEM3200A |
SEM3200 |
| Sistemas Eletro-Ópticos |
Arma de elétrons |
Filamento de tungstênio tipo grampo de tamanho médio pré-alinhado |
| Resolução |
Alto vácuo |
3 nm a 30 kV (SE) |
| 4 nm a 30 kV (BSE) |
| 8 nm a 3 kV (SE) |
| *Baixo vácuo |
3 nm a 30 kV (SE) |
| Ampliação |
1-300.000x (Filme) |
| 1-1.000.000x |
| Tensão de aceleração |
0,2kV ~ 30kV |
| Corrente da sonda |
≥1,2μA, exibição em tempo real |
| Sistemas de imagem |
Detetores SEM |
Detector Everhart-Thornley (ETD) |
| *Detetor de elétrons retroespalhados (BSED), *Detetor de elétrons secundários de baixo vácuo (SE), *Espectroscopia de energia dispersiva (EDS/EDX), etc. |
| Formato de imagem |
TIFF, JPG, BMP, PNG |
| Sistema de vácuo |
Modelo de Vácuo |
Alto Vácuo |
Melhor que 5×10-4Pa |
| Baixo Vácuo |
5 ~ 1000Pa |
| Modo de controle |
Controle Totalmente Automatizado |
| Câmara de Amostras |
Câmera |
Navegação óptica |
| Monitoramento na Câmara de Amostras |
| Tabela de Amostras |
Três Eixos Automáticos |
Cinco eixos automáticos |
| Faixa de Estágio |
X: 120mm |
X: 120mm |
| Y: 115mm |
Y: 115mm |
| Z: 50mm |
Z: 50mm |
| / |
D: 360° |
| / |
T: -10° ~ +90° |
| Software |
Sistema operacional |
Janelas |
| Navegações |
Navegação óptica, navegação rápida por gestos |
| Funções Automáticas |
Brilho e contraste automáticos, foco automático, estigma automático |
| Funções Especiais |
Correção de astigmatismo de imagem assistida por inteligência
*Junção de imagens com FOV grande (opcional)
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| Requisitos de instalação |
Temperatura |
20°C (68°F) ~ 25°C (77°F) |
| Umidade |
≤ 50% |
| Fonte de alimentação |
CA 220 V (±10%), 50 Hz, 2 kVA
CA 110V (±10%), 60Hz
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Galeria de imagens do microscópio CIQTEK SEM SEM3200
Destaques da técnica do microscópio CIQTEK SEM SEM3200
SEM de baixa tensão
Amostras de material de carbono com profundidade de penetração rasa em baixa tensão. A verdadeira topografia da superfície da amostra pode ser obtida com detalhes ricos.
O dano da irradiação do feixe de elétrons da amostra de cabelo é reduzido em baixa tensão enquanto o efeito de carga é eliminado.
Baixo Vácuo SEM
Os materiais dos tubos de fibra filtrados são pouco condutores e carregam significativamente em alto vácuo. A observação direta de amostras não condutoras pode ser feita em baixo vácuo sem revestimento pelo Microscópio SEM SEM3200.
Grande campo de visão
Espécimes biológicos, usando um grande campo de observação, podem facilmente obter os detalhes gerais da morfologia da cabeça de uma joaninha, demonstrando capacidade de imagem em escala cruzada.
Navegação e anticolisão no estágio de amostra
Navegação óptica
Clique onde deseja ir e veja com fácil navegação ao usar os microscópios CIQTEK SEM.
Uma câmera na câmara é padrão e pode tirar fotos em HD para ajudar a localizar espécimes rapidamente.
Navegação rápida por gestos
Microscópio CIQTEK SEM SEM3200 A navegação rápida é obtida clicando duas vezes para mover, usando o botão do meio do mouse para arrastar e usando o quadro para ampliar.
Exp: Zoom de quadro - para obter uma visão ampla da amostra com navegação de baixa ampliação, você pode enquadrar rapidamente a área da amostra em que está interessado, a imagem aumenta automaticamente o zoom para melhorar a eficiência.
Estágio Anticolisão
CIQTEK SEM Microscópio SEM3200 Soluções anticolisão multidirecionais:
1. Insira manualmente a altura da amostra: controle com precisão a distância entre a superfície da amostra e a lente objetiva.
2. Reconhecimento de imagem e captura de movimento: monitore o movimento do palco em tempo real.
3. *Hardware: desligue o motor do estágio no momento da colisão.
Funções características
Correção de astigmatismo de imagem assistida por inteligência
Exibe visualmente o astigmatismo em todo o campo de visão e ajusta rapidamente para corrigir com um clique do mouse.
SEM com foco automático
Foco de um botão para imagens rápidas.
Estigmador Automático
Dedução de astigmatismo com um clique para melhorar a eficiência do trabalho.
Brilho e contraste automáticos
Brilho e contraste automáticos com um clique para ajustar a escala de cinza das imagens apropriadas.
Imagem Simultânea de Múltiplas Informações
O software CIQTEK SEM Microscope SEM3200 suporta a alternância com um clique entre SE e BSE para imagens mistas. Ambas as informações morfológicas e composicionais do espécime podem ser observadas ao mesmo tempo.
Ajuste rápido de rotação de imagem
Arraste uma linha e solte para girar a imagem no local.
