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Filamento de tungstênio SEM | SEM3300

Microscópio eletrônico de varredura de filamento de tungstênio de última geração

O CIQTEK SEM3300 microscópio eletrônico de varredura (SEM) incorpora tecnologias como óptica eletrônica "Super-Túnel", detectores de elétrons na lente e lentes objetivas compostas eletrostáticas e eletromagnéticas. Ao aplicar essas tecnologias no microscópio de filamento de tungstênio, o limite de resolução de longa data de tal SEM é superado, permitindo que o SEM de filamento de tungstênio execute tarefas de análise de baixa tensão que antes só eram possíveis com SEMs de emissão de campo.

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ⶠDetector de elétrons na lente

  • SEM In-lens Electron Detector
  • SEM3300 analysis images

    Imagens do diafragma da bateria de lítio tiradas a 1 kV com ampliação de 20.000 vezes em filme, imagens tiradas com SEM3300

ⶠNavegação óptica

Usar uma câmera de câmara montada verticalmente para capturar imagens ópticas para navegação no estágio da amostra permite um posicionamento mais intuitivo e preciso da amostra.

  • SEM Optical Navigation

ⶠFunções automáticas

Funções de brilho e contraste automáticos aprimorados, foco automático e correção automática de astigmatismo. Imagens com um único clique!

Foco Automático

  • during autofocus
  • after autofocus

Correção Automática de Astigmatismo

  • during autofocus
  • after autofocus

Brilho e contraste automáticos

  • during autofocus
  • after autofocus

ⶠMais seguro de usar

ⶠFácil substituição de filamento

Módulo de filamento de substituição pré-alinhado pronto para uso.

Galeria de imagens do microscópio CIQTEK SEM SEM3300

ⶠSoftware de análise de partículas e poros (partículas) *Opcional

SEM Particle & Pore Analysis Software (Particle)

O software CIQTEK SEM Microscope emprega vários algoritmos de detecção e segmentação de alvos, adequados para diferentes tipos de amostras de partículas e poros. permite a análise quantitativa de estatísticas de partículas e poros e pode ser aplicado em áreas como ciência dos materiais, geologia e ciências ambientais.

ⶠSoftware de pós-processamento de imagem

SEM Microscope Image Post-processing Software

Realize pós-processamento de imagens on-line ou off-line em imagens capturadas por microscópios eletrônicos e integre funções de processamento de imagem EM comumente usadas, medição conveniente e ferramentas de anotação.

ⶠMedição automática *Opcional

SEM Microscope software Auto Measure

Reconhecimento automático das bordas da largura da linha, resultando em medições mais precisas e maior consistência. Suporta vários modos de detecção de bordas, como Linha, Espaço, Pitch, etc. Compatível com vários formatos de imagem e equipado com várias funções de pós-processamento de imagem comumente usadas. O software é fácil de usar, eficiente e preciso.

ⶠKit de desenvolvimento de software (SDK) *Opcional

SEM Microscope Software Development Kit (SDK)

Forneça um conjunto de interfaces para controlar o microscópio SEM, incluindo aquisição de imagem, configurações de condições operacionais, ligar/desligar, controle de estágio, etc. Definições concisas de interface permitem o rápido desenvolvimento de scripts e software específicos de operação de microscópio eletrônico, permitindo rastreamento automatizado de regiões de interesse, aquisição de dados de automação industrial, correção de desvio de imagem e outras funções. Pode ser usado para desenvolvimento de software em áreas especializadas, como análise de diatomáceas, inspeção de impurezas de aço, análise de limpeza, controle de matérias-primas, etc.

ⶠAutoMap *Opcional

  • during autofocus

Especificações do microscópio CIQTEK SEM3300 SEM
Óptica Eletrônica Resolução 2,5 nm a 15 kV, SE
4 nm a 3 kV, SE
5 nm a 1 kV, SE
Tensão de aceleração 0,1kV ~ 30kV
Ampliação (Polaroid) 1 x ~ 300.000 x
Câmara de Amostras Câmera Navegação óptica
Monitoramento de Câmara
Tipo de estágio Motorizado compatível com vácuo de 5 eixos
Faixa XY 125mm
Faixa Z 50mm
Faixa T - 10° ~ 90°
Faixa R 360°
Detetores SEM Padrão Detector de elétrons na lente (Inlens)
Detector Everhart-Thornley (ETD)
Opcional Detector retrátil de elétrons retroespalhados (BSED)
Espectrômetro dispersivo de energia (EDS / EDX)
Padrão de difração retroespalhado de elétrons (EBSD)
Opcional Bloqueio de carga para troca de amostra
Painel de controle do trackball e botão
Interface do usuário Sistema operacional Janelas
Navegação Navegação óptica, navegação rápida por gestos, trackball (opcional)
Funções automáticas Brilho e contraste automáticos, foco automático, estigma automático
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