FESEM | SEM4000Pro

Microscópio SEM de filamento de tungstênio de alto desempenho com excelentes recursos de qualidade de imagem em modos de alto e baixo vácuo O CIQTEK SEM3200 Microscópio SEM tem uma grande profundidade de campo com uma interface amigável para permitir que os usuários caracterizem amostras e explorem o mundo da imagem e análise microscópica.

Microscópio eletrônico de varredura de emissão de campo (FE-SEM) com colunas de feixe de íons focados (FIB) O microscópio eletrônico de varredura por feixe de íons focado CIQTEK DB500 (FIB-SEM) adota tecnologia de óptica eletrônica “SuperTunnel”, baixa aberração e design de objetivo não magnético com baixa tensão e capacidade de alta resolução para garantir a análise em nanoescala. A coluna de íons facilita uma fonte de íons metálicos líquidos Ga+ com um feixe de íons altamente estável e de alta qualidade para nanofabricação. FIB-SEM DB500 possui um nanomanipulador integrado, sistema de injeção de gás, mecanismo elétrico anticontaminação para a lente objetiva e 24 portas de expansão, tornando-o uma plataforma versátil de nanoanálise e fabricação com configurações abrangentes e capacidade de expansão .

Microscopia Eletrônica de Varredura de Emissão de Campo de resolução ultra-alta (FESEM): 0,6 nm@15 kV e 1,0 nm@1 kV O CIQTEK SEM5000X FESEM de resolução ultra-alta utiliza o processo de engenharia de coluna atualizado, tecnologia “SuperTunnel” e design de lente objetiva de alta resolução para melhorar a resolução de imagens de baixa tensão. As portas da câmara de amostra FESEM SEM5000X se estendem até 16, e a trava de carga para troca de amostra suporta tamanho de wafer de até 8 polegadas (diâmetro máximo de 208 mm), expandindo significativamente as aplicações. Os modos de digitalização avançados e funções automatizadas aprimoradas proporcionam desempenho mais forte e uma experiência ainda mais otimizada.

CIQTEK SEM5000Pro é um microscópio eletrônico de varredura de emissão de campo (FESEM) com capacidade de imagem e análise de alta resolução, apoiado por funções abundantes, benefícios de design avançado de coluna óptica eletrônica, com tecnologia de túnel de feixe de elétrons de alta pressão (SuperTunnel), baixa aberração e Lente objetiva MFL, obtém imagens de baixa tensão e alta resolução, a amostra magnética também pode ser analisada. Com navegação óptica, funcionalidades automatizadas, interface de usuário de interação humano-computador cuidadosamente projetada e operação e processo de uso otimizados, não importa se você é um especialista ou não, você pode começar rapidamente e concluir trabalhos de análise e imagem de alta resolução.

Microscópio eletrônico de varredura de alta velocidade para imagens em escala cruzada de espécimes de grande volume Tecnologias de instalações CIQTEK HEM6000, como pistola de elétrons de corrente de feixe grande de alto brilho, sistema de deflexão de feixe de elétrons de alta velocidade, desaceleração de estágio de amostra de alta tensão, eixo óptico dinâmico e lentes objetivas combinadas eletromagnéticas e eletrostáticas de imersão para alcançar alta -acelera a aquisição de imagens, garantindo resolução em nanoescala. O processo de operação automatizado foi projetado para aplicações como um fluxo de trabalho de imagem de alta resolução em grandes áreas mais eficiente e inteligente. A velocidade de imagem pode atingir mais de 5 vezes mais rápida do que um microscópio eletrônico de varredura de emissão de campo convencional (fesem).