O que você está procurando?
Pesquisas populares
field emission sem price

Microscópio eletrônico de varredura de emissão de campo | SEM4000

CIQTEK SEM4000 é um microscópio eletrônico de varredura de emissão de campo térmico analítico equipado com um canhão eletrônico de emissão de campo Schottky de alto brilho e longa vida útil.

O design de lente magnética de três estágios, com corrente de feixe grande e continuamente ajustável, tem vantagens óbvias em EDS, EBSD, WDS e outras aplicações. Suporta modo de baixo vácuo, pode observar diretamente a condutividade de amostras fracas ou não condutoras. O modo de navegação óptica padrão, bem como uma interface de operação intuitiva, facilitam o seu trabalho de análise.

Pergunte agora

• Equipado com canhão de elétrons de emissão de campo Schottky de alto brilho e longa vida útil

•Alta resolução, melhor que a resolução de 1 nm a 30 kV

•Design de lente magnética de três estágios, alcance ajustável de feixe amplo

•*Detetores de elétrons secundários de baixo vácuo e alto desempenho, observam amostras fracas ou não condutoras

•O design da objetiva magnética sem vazamentos pode observar amostras magnéticas diretamente

•Modo de navegação óptica padrão

 

Parâmetros principais Resolução

1 nm a 30 kV, SE

0,9 nm @ 30 kV, HASTE
Tensão acelerada 200 V ~ 30 kV
Ampliação 1 ~ 1.000.000 x
Canhão de elétrons Pistola de elétrons de emissão de campo Schottky de alto brilho
Sala de amostragem Sistema de vácuo Controle totalmente automático
Baixo Vácuo (Opcional) Máx. 180 Pa
Câmera Câmeras duplas (navegação óptica + monitoramento na câmara)
Distância

X: 120mm

E: 115 mm

Z: 50mm

T: -10°~ +90°

R: 360°
Detector e extensão Padrão Detector Everhart-Thornley (ETD)
Opcional

Detector de baixo vácuo (LVD)

Detector de elétrons retroespalhados (BSE)

Detector STEM

EDS

EBSD

Câmara de ar

Trackball e Painel de controle de botão
Programas Linguagem Inglês
SO janelas
Navegação Navegação óptica, navegação por gestos
Função Automática Contraste de brilho automático, foco automático, astigmatismo automático
Tags quentes : Fabricante de microscópio eletrônico de varredura de emissão de campo, fornecedor global Detectores SEM EDX, EDS, EBSD, BSE, CL, STEM alta resolução FESEM melhor preço Pistola de elétrons de emissão de campo Schottky de alto brilho Melhor Microscopia Eletrônica de Varredura de Emissão de Campo de Ampliação Aplicações de microscópio eletrônico de varredura de emissão de campo Microscópio eletrônico de varredura de emissão de campo pdf Notas do microscópio eletrônico de varredura de emissão de campo
Deixe um recado
Não hesite em contactar-nos para mais detalhes, solicitar um orçamento ou agendar uma demonstração online! Responderemos assim que pudermos.
Assunto : Microscópio eletrônico de varredura de emissão de campo | SEM4000
Enviar
produtos relacionados
fib sem microscopy
FIB-SEM | DB550

Microscópio eletrônico de varredura de emissão de campo (FE-SEM) com colunas de feixe de íons focados (FIB) O microscópio eletrônico de varredura por feixe de íons focado CIQTEK DB550 (FIB-SEM) possui uma coluna de feixe de íons focado para nanoanálise e preparação de amostras. Ele utiliza tecnologia de óptica eletrônica de “supertúnel”, baixa aberração e design objetivo não magnético, e possui o recurso de “baixa tensão, alta resolução” para garantir suas capacidades analíticas em nanoescala. As colunas de íons facilitam uma fonte de íons metálicos líquidos Ga+ com feixes de íons altamente estáveis ​​e de alta qualidade para garantir capacidades de nanofabricação. O DB550 é uma estação de trabalho completa de nanoanálise e fabricação com um nanomanipulador integrado, sistema de injeção de gás e software GUI fácil de usar.

Saber mais
fesem edx
FESEM de resolução ultra-alta | SEM5000X

Microscopia Eletrônica de Varredura de Emissão de Campo de resolução ultra-alta (FESEM): 0,6 nm@15 kV e 1,0 nm@1 kV O CIQTEK SEM5000X FESEM de resolução ultra-alta utiliza o processo de engenharia de coluna atualizado, tecnologia “SuperTunnel” e design de lente objetiva de alta resolução para melhorar a resolução de imagens de baixa tensão. As portas da câmara de amostra FESEM SEM5000X se estendem até 16, e a trava de carga para troca de amostra suporta tamanho de wafer de até 8 polegadas (diâmetro máximo de 208 mm), expandindo significativamente as aplicações. Os modos de digitalização avançados e funções automatizadas aprimoradas proporcionam desempenho mais forte e uma experiência ainda mais otimizada.

Saber mais
scanning electron microscope machine
Filamento de tungstênio SEM | SEM3200

Microscópio SEM de filamento de tungstênio universal e de alto desempenho O microscópio SEM CIQTEK SEM3200 é um excelente microscópio eletrônico de varredura (SEM) de filamento de tungstênio de uso geral com excelentes capacidades gerais. Sua estrutura exclusiva de canhão de elétrons de ânodo duplo garante alta resolução e melhora a relação sinal-ruído da imagem em baixas tensões de excitação. Além disso, oferece uma ampla gama de acessórios opcionais, tornando o SEM3200 um instrumento analítico versátil com excelentes recursos.

Saber mais
sem microscope price
Histórias de clientes de microscópios SEM CIQTEK

Leia os insights dos clientes SEM da CIQTEK e saibamais sobre os pontos fortes e as conquistas da CIQTEK como líder do setor de SEM! E-mail: info@ciqtek.com

Saber mais
Principal

Deixe um recado
Deixe um recado
Não hesite em contactar-nos para mais detalhes, solicitar um orçamento ou agendar uma demonstração online! Responderemos assim que pudermos.
Enviar

Lar

Produtos

Bater papo

contato