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FESEM | SEM4000X

Estável, versátil, flexível e eficiente

O CIQTEK SEM4000X é um microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo (FE-SEM) estável, versátil, flexível e eficiente. Ele atinge uma resolução de 1,9nm@1,0kV e enfrenta facilmente desafios de imagem de alta resolução para vários tipos de amostras. Ele pode ser atualizado com um modo de desaceleração de ultra-feixe para melhorar ainda mais a resolução de baixa tensão.

O microscópio utiliza tecnologia de múltiplos detectores, com um detector de elétrons (UD) na coluna capaz de detectar sinais SE e BSE enquanto fornece desempenho de alta resolução. O detector de elétrons (LD) montado em câmara incorpora cintilador de cristal e tubos fotomultiplicadores, oferecendo maior sensibilidade e eficiência, resultando em imagens estereoscópicas de excelente qualidade. A interface gráfica do usuário é fácil de usar, apresentando funções de automação como brilho e contraste automáticos, foco automático, estigma automático e alinhamento automático, permitindo a captura rápida de imagens de altíssima resolução.

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ⶠÓptica Eletrônica

sem Electron Optics

ⶠSoftware de análise de partículas e poros (partículas) *Opcional

SEM Particle & Pore Analysis Software (Particle)

O software CIQTEK SEM Microscope emprega vários algoritmos de detecção e segmentação de alvos, adequados para diferentes tipos de amostras de partículas e poros. permite a análise quantitativa de estatísticas de partículas e poros e pode ser aplicado em áreas como ciência dos materiais, geologia e ciências ambientais.

ⶠSoftware de pós-processamento de imagem *Opcional

SEM Microscope Image Post-processing Software

Realize pós-processamento de imagem on-line ou off-line em imagens capturadas por microscópios eletrônicos e integre funções de processamento de imagem EM comumente usadas, medição conveniente e ferramentas de anotação.

ⶠMedição automática *Opcional

SEM Microscope software Auto Measure

Reconhecimento automático das bordas da largura da linha, resultando em medições mais precisas e maior consistência. Suporta vários modos de detecção de bordas, como Linha, Espaço, Pitch, etc. Compatível com vários formatos de imagem e equipado com várias funções de pós-processamento de imagem comumente usadas. O software é fácil de usar, eficiente e preciso.

ⶠKit de desenvolvimento de software (SDK) *Opcional

SEM Microscope Software Development Kit (SDK)

Forneça um conjunto de interfaces para controlar o microscópio SEM, incluindo aquisição de imagem, configurações de condições operacionais, ligar/desligar, controle de estágio, etc. Definições concisas de interface permitem o rápido desenvolvimento de scripts e software específicos de operação de microscópio eletrônico, permitindo rastreamento automatizado de regiões de interesse, aquisição de dados de automação industrial, correção de desvio de imagem e outras funções. Pode ser usado para desenvolvimento de software em áreas especializadas, como análise de diatomáceas, inspeção de impurezas de aço, análise de limpeza, controle de matérias-primas, etc.

ⶠAutoMap *Opcional

FESEM Microscope software Auto Measure

Especificações do microscópio CIQTEK SEM4000X FESEM
Óptica Eletrônica Resolução 0,9 nm@30 kV, SE
1,2 nm@15 kV, SE
1,9 nm@1 kV, SE
1,5 nm@1 kV (desaceleração de ultra feixe)
1 nm@15 kV (desaceleração do ultra feixe)
Tensão de aceleração 0,2kV ~ 30kV
Ampliação (Polaroid) 1 ~ 1.000.000 x
Tipo de arma eletrônica Pistola de elétrons de emissão de campo Schottky
Câmara de Amostras Câmera Câmeras duplas (navegação óptica + monitoramento de câmara)
Faixa de Estágio

X: 110mm

Y: 110mm

Z: 50mm

T: -10°~ +70°

D: 360°
Detectores e extensões SEM Padrão

Detector de elétrons na lente: UD-BSE/UD-SE

Detector Everhart-Thornley: LD
Opcional

Detector de elétrons retroespalhados (BSED)

Detector de Microscopia Eletrônica de Transmissão de Varredura Retrátil (STEM)

Detector de Baixo Vácuo (LVD)

Espectrômetro Dispersivo de Energia (EDS / EDX)

Padrão de difração de retroespalhamento de elétrons (EBSD)

Trava de carga para troca de amostra (4 polegadas /8 polegadas)

Painel de controle do trackball e botão

Tecnologia de modo de desaceleração de ultra feixe
Interface do usuário Idioma Inglês
SO Janelas
Navegação Navegação Óptica, Navegação Rápida por Gestos, Trackball (opcional)
Funções automáticas Brilho e contraste automáticos, foco automático, estigma automático
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