O CIQTEK tem o prazer de anunciar a entrega do Fesem Sem5000x à Universidade de Tecnologia de Ilmenau na Alemanha Isso marca um marco significativo para a CIQTEK, pois expande sua presença no mercado global de instrumentos científicos de ponta
A CIQTEK anunciou a instalação de seu SEM3200 em Synergie4 Este novo centro de demonstração mostra tecnologias avançadas de microscopia a pesquisadores e cientistas da França
Nossos clientes coreanos instalaram com sucesso o Fesem Sem5000 no campus Ulsan É amplamente considerado um dos SEMs mais avançados de hoje (Vídeo incluído)
O SEM3200 de alta resolução ajudará os pesquisadores da Universidade de Monterrey a obter informações inestimáveis sobre imagens e análises microscópicas
Respostas SCIMED Perguntas frequentes sobre o CIQTEK SEM3200, cobrindo a preparação de amostras, modalidades de imagem, análise de dados e aplicações em diferentes campos (Vídeo incluído)
Media System Lab S r l Realizou uma demonstração ao vivo do CIQTEK SEM3200 em Roma, mostrando suas poderosas características e características fascinantes
A CIQTEK tem o orgulho de anunciar a integração de seus modelos SEM3200, Fesem Sem4000Pro e Fesem Sem5000X no GSEM, permitindo que os pesquisadores explorem uma ampla gama de aplicações de imagem e análise
Microscópio eletrônico de varredura de emissão de campo (FE-SEM) com colunas de feixe de íons focados (FIB) O microscópio eletrônico de varredura por feixe de íons focado CIQTEK DB550 (FIB-SEM) possui uma coluna de feixe de íons focado para nanoanálise e preparação de amostras. Ele utiliza tecnologia de óptica eletrônica de “supertúnel”, baixa aberração e design objetivo não magnético, e possui o recurso de “baixa tensão, alta resolução” para garantir suas capacidades analíticas em nanoescala. As colunas de íons facilitam uma fonte de íons metálicos líquidos Ga+ com feixes de íons altamente estáveis e de alta qualidade para garantir capacidades de nanofabricação. O DB550 é uma estação de trabalho completa de nanoanálise e fabricação com um nanomanipulador integrado, sistema de injeção de gás e software GUI fácil de usar.
Microscópio eletrônico de varredura de alta velocidade para imagens em escala cruzada de espécimes de grande volume CIQTEK HEM6000 instala tecnologias como o canhão de elétrons de corrente de feixe grande de alto brilho, sistema de deflexão de feixe de elétrons de alta velocidade, desaceleração de estágio de amostra de alta tensão, eixo óptico dinâmico e lentes objetivas combinadas eletromagnéticas e eletrostáticas de imersão para obter aquisição de imagem em alta velocidade e, ao mesmo tempo, garantir resolução em nanoescala. O processo de operação automatizado foi projetado para aplicações como um fluxo de trabalho de imagem de alta resolução em grandes áreas mais eficiente e inteligente. A velocidade de imagem pode chegar a 5 vezes mais rápida do que um microscópio eletrônico de varredura de emissão de campo convencional (FESEM).
Microscopia eletrônica de varredura de emissão de campo de resolução ultra-alta (Feseem)O CIQTEK SEM5000X é um fesem de resolução ultra-alta com design de coluna óptica de elétrons otimizada, reduzindo as aberrações gerais em 30%, alcançando uma resolução ultra-alta de 0,6 nm a 15 kV e 1,0 nm a 1 kV Sua alta resolução e estabilidade o tornam vantajoso na pesquisa avançada de materiais nanoestruturais, bem como no desenvolvimento e fabricação de chips de IC semicondutores de nó de alta tecnologia.
Alta resolução sob baixa excitação O CIQTEK SEM5000Pro é um microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo Schottky (FE-SEM) especializado em alta resolução mesmo sob baixa tensão de excitação. O emprego de uma avançada tecnologia de óptica eletrônica "Super-Túnel" facilita um caminho de feixe sem cruzamento, juntamente com um design de lente composta eletrostática-eletromagnética. Esses avanços reduzem o efeito de carga espacial, minimizam as aberrações da lente, melhoram a resolução da imagem em baixa tensão e alcançam uma resolução de 1,2 nm a 1 kV, o que permite a observação direta de amostras não condutoras ou semicondutoras, reduzindo efetivamente a amostra danos por irradiação.
Microscópio Eletrônico de Varredura de Emissão de Campo Analítico (FESEM) com Grande Feixe I CIQTEK SEM4000Pro é um modelo analítico de FE-SEM, equipado com um canhão de elétrons de emissão de campo Schottky de alto brilho e longa vida. O design da lente eletromagnética de 3 estágios oferece vantagens significativas em aplicações analíticas como EDS/EDX, EBSD, WDS e muito mais. Ele vem de fábrica com um modo de baixo vácuo e detector de elétrons secundários de baixo vácuo de alto desempenho, bem como um detector de elétrons retroespalhados retrátil, que beneficia a observação de amostras pouco condutoras ou não condutoras.
Microscópio SEM de filamento de tungstênio universal e de alto desempenho O microscópio SEM CIQTEK SEM3200 é um excelente microscópio eletrônico de varredura (SEM) de filamento de tungstênio de uso geral com excelentes capacidades gerais. Sua estrutura exclusiva de canhão de elétrons de ânodo duplo garante alta resolução e melhora a relação sinal-ruído da imagem em baixas tensões de excitação. Além disso, oferece uma ampla gama de acessórios opcionais, tornando o SEM3200 um instrumento analítico versátil com excelentes recursos.