Filamento de tungstênio SEM | SEM2100

Microscópio eletrônico de varredura de emissão de campo (FE-SEM) com colunas de feixe de íons focados (FIB) O microscópio eletrônico de varredura por feixe de íons focado CIQTEK DB550 (FIB-SEM) possui uma coluna de feixe de íons focado para nanoanálise e preparação de amostras. Ele utiliza tecnologia de óptica eletrônica de “supertúnel”, baixa aberração e design objetivo não magnético, e possui o recurso de “baixa tensão, alta resolução” para garantir suas capacidades analíticas em nanoescala. As colunas de íons facilitam uma fonte de íons metálicos líquidos Ga+ com feixes de íons altamente estáveis ​​e de alta qualidade para garantir capacidades de nanofabricação. O DB550 é uma estação de trabalho completa de nanoanálise e fabricação com um nanomanipulador integrado, sistema de injeção de gás e software GUI fácil de usar.

Microscópio eletrônico de varredura de alta velocidade para imagens em escala cruzada de espécimes de grande volume CIQTEK HEM6000 instala tecnologias como o canhão de elétrons de corrente de feixe grande de alto brilho, sistema de deflexão de feixe de elétrons de alta velocidade, desaceleração de estágio de amostra de alta tensão, eixo óptico dinâmico e lentes objetivas combinadas eletromagnéticas e eletrostáticas de imersão para obter aquisição de imagem em alta velocidade e, ao mesmo tempo, garantir resolução em nanoescala. O processo de operação automatizado foi projetado para aplicações como um fluxo de trabalho de imagem de alta resolução em grandes áreas mais eficiente e inteligente. A velocidade de imagem pode chegar a 5 vezes mais rápida do que um microscópio eletrônico de varredura de emissão de campo convencional (FESEM).

Microscopia eletrônica de varredura por emissão de campo de resolução ultra-alta (FESEM) desafia os limites O CIQTEK SEM5000X é um FESEM de resolução ultra-alta com design de coluna óptica eletrônica otimizado, reduzindo as aberrações gerais em 30%, alcançando resolução ultra-alta de 0,6 nm@15 kV e 1,0 nm@1 kV . Sua alta resolução e estabilidade o tornam vantajoso na pesquisa avançada de materiais nanoestruturais, bem como no desenvolvimento e fabricação de chips IC semicondutores de nó de alta tecnologia.

Alta resolução sob baixa excitação O CIQTEK SEM5000Pro é um microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo Schottky (FE-SEM) especializado em alta resolução mesmo sob baixa tensão de excitação. O emprego de uma avançada tecnologia de óptica eletrônica "Super-Túnel" facilita um caminho de feixe sem cruzamento, juntamente com um design de lente composta eletrostática-eletromagnética. Esses avanços reduzem o efeito de carga espacial, minimizam as aberrações da lente, melhoram a resolução da imagem em baixa tensão e alcançam uma resolução de 1,2 nm a 1 kV, o que permite a observação direta de amostras não condutoras ou semicondutoras, reduzindo efetivamente a amostra danos por irradiação.

Microscópio Eletrônico de Varredura de Emissão de Campo Analítico (FESEM) com Grande Feixe I CIQTEK SEM4000Pro é um modelo analítico de FE-SEM, equipado com um canhão de elétrons de emissão de campo Schottky de alto brilho e longa vida. O design da lente eletromagnética de 3 estágios oferece vantagens significativas em aplicações analíticas como EDS/EDX, EBSD, WDS e muito mais. Ele vem de fábrica com um modo de baixo vácuo e detector de elétrons secundários de baixo vácuo de alto desempenho, bem como um detector de elétrons retroespalhados retrátil, que beneficia a observação de amostras pouco condutoras ou não condutoras.

Estável, versátil, flexível e eficiente O CIQTEK SEM4000X é um microscópio eletrônico de varredura por emissão de campo (FE-SEM) estável, versátil, flexível e eficiente. Ele atinge uma resolução de 1,9nm@1,0kV e enfrenta facilmente desafios de imagem de alta resolução para vários tipos de amostras. Ele pode ser atualizado com um modo de desaceleração de ultra-feixe para melhorar ainda mais a resolução de baixa tensão. O microscópio utiliza tecnologia de múltiplos detectores, com um detector de elétrons (UD) na coluna capaz de detectar sinais SE e BSE enquanto fornece desempenho de alta resolução. O detector de elétrons (LD) montado em câmara incorpora cintilador de cristal e tubos fotomultiplicadores, oferecendo maior sensibilidade e eficiência, resultando em imagens estereoscópicas de excelente qualidade. A interface gráfica do usuário é fácil de usar, apresentando funções de automação como brilho e contraste automáticos, foco automático, estigma automático e alinhamento automático, permitindo a captura rápida de imagens de altíssima resolução.

Microscópio eletrônico de varredura de filamento de tungstênio de última geração O CIQTEK SEM3300 microscópio eletrônico de varredura (SEM) incorpora tecnologias como óptica eletrônica "Super-Túnel", detectores de elétrons na lente e lentes objetivas compostas eletrostáticas e eletromagnéticas. Ao aplicar essas tecnologias no microscópio de filamento de tungstênio, o limite de resolução de longa data de tal SEM é superado, permitindo que o SEM de filamento de tungstênio execute tarefas de análise de baixa tensão que antes só eram possíveis com SEMs de emissão de campo.

Microscópio SEM de filamento de tungstênio universal e de alto desempenho O microscópio SEM CIQTEK SEM3200 é um excelente microscópio eletrônico de varredura (SEM) de filamento de tungstênio de uso geral com excelentes capacidades gerais. Sua estrutura exclusiva de canhão de elétrons de ânodo duplo garante alta resolução e melhora a relação sinal-ruído da imagem em baixas tensões de excitação. Além disso, oferece uma ampla gama de acessórios opcionais, tornando o SEM3200 um instrumento analítico versátil com excelentes recursos.