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CIQTEK is the manufacturer and global supplier of high-value scientific instruments, such as Electron Microscopes, Electron Paramagnetic Resonance (Electron Spin Resonance), Gas Adsorption Analyzers, Scanning NV Microscopes, etc.
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Microscópio eletrônico de varredura com filamento de tungstênio | SEM2000

O CIQTEK SEM2000 é um microscópio eletrônico de varredura de filamento de tungstênio analítico fundamental e versátil com resolução de 20 kV de até 3,9 nm e suporte para atualização para 30 kV, permitindo a observação de informações microestruturais de amostras em submicroescala.

Ele tem uma amplitude de movimento mais ampla do que um SEM de desktop/bancada. É adequado para triagem rápida de amostras e possui mais interfaces de expansão para BSED, EDS/EDX e outros acessórios para permitir uma gama mais ampla de aplicações.

  • Resolução
    3,9 nm a 20 kV
  • Tensão de aceleração
    0,5 ~ 20 kV (30 kV opcional)
  • Ampliação
    1 ~ 300.000x

Detectores versáteis

Detector de retroespalhamento de alta sensibilidade

· Imagem multicanal

O detector possui um design compacto e alta sensibilidade. Com um design de 4 segmentos, não há necessidade de inclinar a amostra para obter imagens de sombras em diferentes direções, bem como imagens de distribuição de composição.

 

 

· Comparação de imagens de elétrons secundários (SE) e imagens de elétrons retroespalhados (BSE)

No modo de imagem eletrônica retroespalhada, o efeito de carga é significativamente diminuído e mais informações sobre a composição da superfície da amostra podem ser obtidas.

 

 

Espectro Energético

Resultados da análise de varredura de superfície do espectro de energia de inclusões metálicas.

 

 

 

Difração de retroespalhamento de elétrons (EBSD)

O microscópio eletrônico de filamento de tungstênio com grande corrente de feixe atende totalmente aos requisitos de teste do EBSD de alta resolução e é capaz de analisar materiais policristalinos, como metais, cerâmicas e minerais, para calibração de orientação de cristal e tamanho de grão.

A figura mostra o mapa antípoda EBSD da amostra de metal Ni, que pode identificar o tamanho e a orientação dos grãos, determinar os limites e gêmeos dos grãos e fazer julgamentos precisos sobre a organização e estrutura do material.

 

Sistemas Eletro-Ópticos Canhão de elétrons Filamento de tungstênio tipo garfo de tamanho médio pré-alinhado
Resolução

3,9 nm a 20 kV (SE)

4,5 nm a 20 kV (BSE)

Ampliação 1x~300.000x
Tensão de aceleração 0,5 kV ~ 20 kV
Sistemas de imagem Detector

Detector de elétrons secundário (ETD)

*Detetor de elétrons retroespalhados (BSED), *espectrômetro de energia EDS, etc.

Formato de imagem TIFF, JPG, BMP, PNG
Sistema de vácuo Alto Vácuo Melhor que 5×10 -4 Pa
Modo de controle Sistema de controle totalmente automatizado
Bombas Bomba Mecânica ×1, Bomba Molecular ×1
Câmara de Amostra Câmera Navegação óptica
Tabela de amostra Automático de dois eixos
Distância

X: 100mm

E: 100 mm

Programas Sistema operacional janelas
Navegações Navegação óptica, navegação rápida por gestos
Funções Automáticas Contraste de brilho automático, foco automático, dissipação automática
Funções especiais Dispersão assistida inteligente, * Costura de imagem em grande escala (acessórios opcionais)
Requerimentos de instalação Espaço L ≥ 3.000 mm, L ≥ 4.000 mm, H ≥ 2.300 mm
Temperatura 20°C (68°F) ~ 25°C (77°F)
Umidade ≤ 50%
Fonte de energia CA 220 V(±10%), 50 Hz, 2 kVA

 

 

Interface de usuário simples

Interface clara e simples

Os recursos são simples e fáceis de operar. Mesmo os iniciantes podem começar rapidamente após o aprendizado rápido.

Recursos avançados de automação

Contraste de brilho automático, foco automático e dispersão automática de imagem são todos ajustáveis ​​com um clique.

Extensas funções de medição

Funções de gerenciamento, visualização e edição de fotos com funções de medição como comprimento, área, circularidade e ângulo.


 

Funções em destaque

Navegação óptica

Fácil de navegar clicando onde deseja ver.

Câmera de navegação óptica padrão para fotos de amostra em alta definição e posicionamento rápido da amostra.

 

 

Anti-colisão

Design anticolisão mais amigável para iniciantes para proteção máxima de unidades sensíveis.

 

Imagem com um clique

*O software é fácil de operar com imagens com um clique.

 

 

Distância de trabalho

A distância ideal de análise e a distância da imagem são duas em uma para obter facilmente um desempenho de qualidade.

 

 

Imagem Simultânea de Múltiplas Informações

O software oferece suporte à alternância com um clique entre SE e BSE para imagens híbridas. Ambas as informações morfológicas e composicionais da amostra podem ser observadas ao mesmo tempo.

 

Indicadores de resolução

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