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Microscópio eletrônico de varredura por feixe de íons focalizado | DB500

CIQTEK DB500 é um microscópio eletrônico de varredura de emissão de campo com coluna de feixe de íons focados para nanoanálise e preparação de amostras, que é aplicado com tecnologia “SuperTunnel”, baixa aberração e design de lente objetiva sem magnetismo, com baixa tensão e alta resolução capacidade que garante sua capacidade analítica em nanoescala. A coluna de íons facilita uma fonte de íons metálicos líquidos Ga+ com um feixe de íons altamente estável e de alta qualidade para garantir capacidade de nanofabricação.

O DB500 é equipado com um nanomanipulador integrado, sistema de injeção de gás, mecanismo elétrico anticontaminação para a lente objetiva e 24 portas de expansão, tornando-o uma plataforma versátil de nanoanálise e fabricação com configurações abrangentes e capacidade de expansão.

Supertúnel
Feixe de íons de gálio
Totalmente configurado

Sistema de injeção de gás
Manipulador Integrado
Excelente garantia

• Tecnologia “SuperTunnel” Electron Optics com lente objetiva sem magnetismo, adequada para imagens de alta resolução e compatível com imagens de amostras magnéticas.

• A coluna de feixe de íons focado que produz um feixe de íons altamente estável e de alta qualidade, adequado para nanofabricação de alta qualidade e preparação de amostras TEM.

• Um manipulador acionado piezoeletricamente localizado na câmara da amostra com um sistema de controle integrado para manuseio preciso.

• Sistema desenvolvido de forma independente com forte capacidade de expansão. O design integrado do conjunto da fonte de íons para troca rápida da fonte de íons. Excelente serviço, apoiado por uma garantia incluída de três anos.

Coluna de feixe de íons focado

Resolução: 3 nm@30 KV

Corrente da sonda (faixa de corrente do feixe de íons): 1 pA ~ 50 nA

Faixa de tensão de aceleração: 500 V ~ 30 kV

Intervalo de troca da fonte iônica: ≥1000 horas

Estabilidade: 72 horas de operação ininterrupta

Nanomanipulador

Câmara montada internamente

Três eixos totalmente acionados piezoeletricamente

Precisão do motor de passo ≤10 nm

Velocidade máxima de deslocamento 2 mm/s

Controle integrado

Colaboração feixe de íons-feixe de elétrons

Sistema de injeção de gás

Projeto GIS único

Várias fontes de precursores de gás estão disponíveis

Distância de inserção da agulha ≥35 mm

Repetibilidade de movimento ≤10 μm

Repetibilidade do controle de temperatura de aquecimento ≤0,1°C

Faixa de aquecimento: temperatura ambiente ~ 90°C

Controle integrado

Sistema de feixe de elétrons	Tipo de arma de elétrons	Pistola de elétrons de emissão de campo Schottky de alto brilho
	Resolução	1,2 nm@15 kV
	Tensão de aceleração	20V~30kV
Sistema de feixe de íons	Tipo de fonte de íons	Fonte líquida de íons de gálio
	Resolução	3 nm@30 kV
	Tensão de aceleração	500 V ~ 30 kV
Câmara de Amostras	Sistema de vácuo	Controle totalmente automático, sistema de vácuo sem óleo
	Câmeras	Três câmeras (Navegação óptica + monitor de câmara x2)
	Tipo de palco	Estágio de amostra eucêntrico mecânico de 5 eixos
	Faixa de palco	X=110mm, Y=110mm, Z=65mm T: -10°~+70°, R:360°
Detectores e extensões	Padrão	Detector na lente Detector Everhart-Thornley (ETD)
Detectores e extensões	Opcional	Detector retrátil de elétrons retroespalhados (BSED) Detector retrátil de microscopia eletrônica de transmissão de varredura (STEM) Espectrômetro Dispersivo de Energia (EDS) Padrão de difração de retroespalhamento de elétrons (EBSD) Nanomanipulador Sistema de injeção de gás Limpador de Plasma Bloqueio de troca de amostra Painel de controle do trackball e botão
Programas	línguas	Inglês
	Sistema operacional	janelas
	Navegação	Nav-Cam, navegação rápida por gestos
	Funções Automáticas	Brilho e contraste automáticos, foco automático, estigma automático

Vídeo: CIQTEK DB500 (microscópio eletrônico de varredura de feixe duplo)

Fio Dourado
30 kV / 800X / ETD
Chip IC 1
1 kV / 1500X / ETD
Chip IC 2
1 kV / 15000X / ETD

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