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*Modo de baixo vácuo
Forneça detalhes e morfologia da superfície da amostra em baixo vácuo, alterne o estado de vácuo do software com um clique
(*Acessórios opcionais)
Detectores versáteis
O microscópio eletrônico de varredura (MEV) é utilizado não apenas para a observação da morfologia da superfície, mas também para a análise da composição de microrregiões na superfície da amostra.
O CIQTEK SEM3200 possui uma grande câmara de amostra com uma interface extensa. Além de suportar detector convencional Everhart-Thornley (ETD), detector de elétrons retroespalhados (BSE) e espectroscopia de raios X por dispersão de energia (EDS/EDX), várias interfaces, como difratômetros retroespalhados de elétrons (EBSD) e catodoluminescência (CL) também estão reservados.
Detector de elétrons retroespalhados (BSE)
Comparação de imagens de elétrons secundários e imagens de elétrons retroespalhados
No modo de imagem eletrônica retroespalhada, o efeito de carga é significativamente reduzido e mais informações sobre a composição da superfície da amostra podem ser obtidas.
Amostras de chapeamento:
Amostras de liga de aço de tungstênio:
Detector de elétrons retroespalhados de quatro segmentos - Imagem multicanal
O detector possui um design compacto e alta sensibilidade. Com o design de 4 segmentos é possível obter imagens de sombras em diferentes direções, bem como imagens de distribuição de composição sem inclinar a amostra.
O dano da irradiação do feixe de elétrons da amostra de cabelo é reduzido em baixa voltagem enquanto o efeito de carga é eliminado.
Espectro Energético
Resultados da análise do espectro de energia de pequenas esferas de LED.
Difração de retroespalhamento de elétrons (EBSD)
O microscópio eletrônico de filamento de tungstênio com grande corrente de feixe atende totalmente aos requisitos de teste do EBSD de alta resolução e é capaz de analisar materiais policristalinos, como metais, cerâmicas e minerais, para calibração de orientação de cristal e tamanho de grão.
A figura mostra o mapa antípoda EBSD da amostra de metal Ni, que pode identificar o tamanho e a orientação dos grãos, determinar os limites e gêmeos dos grãos e fazer julgamentos precisos sobre a organização e estrutura do material.
| Modelos |
SEM3200A |
SEM3200 |
| Sistemas Eletro-Ópticos |
Canhão de elétrons |
Filamento de tungstênio tipo garfo de tamanho médio pré-alinhado |
| Resolução |
Alto vácuo |
3 nm a 30 kV (SE) |
| 4 nm a 30 kV (BSE) |
| 8 nm a 3 kV (SE) |
| *Baixo Vácuo |
3 nm a 30 kV (SE) |
| Ampliação |
1-300.000x (ampliação do filme) |
| 1-1000.000x (ampliação da tela) |
| Tensão de aceleração |
0,2 kV ~ 30 kV |
| Corrente da sonda |
≥1,2μA, exibição em tempo real |
| Sistemas de imagem |
Detector |
Detector de elétrons secundário (ETD) |
| *Detetor de elétrons retroespalhados (BSED), *detector de elétrons secundários de baixo vácuo, *espectrômetro de energia EDS, etc. |
| Formato de imagem |
TIFF, JPG, BMP, PNG |
| Sistema de vácuo |
Modelo de vácuo |
Alto Vácuo |
Melhor que 5×10-4 Pa |
| Baixo Vácuo |
5 ~ 1000Pa |
| Modo de controle |
Controle totalmente automático |
| Câmara de Amostra |
Câmera |
Navegação óptica |
| Monitoramento na Câmara de Amostras |
| Tabela de amostra |
Três eixos automáticos |
Cinco eixos automáticos |
| Distância |
X: 120mm |
X: 120mm |
| E: 115 mm |
E: 115 mm |
| Z: 50mm |
Z: 50mm |
| / |
R: 360° |
| / |
T: -10° ~ +90° |
| Programas |
Sistema operacional |
janelas |
| Navegações |
Navegação óptica, navegação rápida por gestos |
| Funções Automáticas |
Contraste de brilho automático, foco automático, dissipação automática |
| Funções especiais |
Dispersão assistida inteligente, * Costura de imagem em grande escala (acessórios opcionais) |
| Requerimentos de instalação |
Espaço |
L≥ 3000 mm, W ≥ 4000 mm,H ≥ 2300 mm |
| Temperatura |
20°C (68°F) ~ 25°C (77°F) |
| Umidade |
≤ 50% |
| Fonte de energia |
CA 220 V(±10%), 50 Hz, 2 kVA |
> Baixa voltagem
Amostras de material de carbono com pequena profundidade de penetração em baixa tensão. A forma real da superfície da amostra pode ser obtida com detalhes mais ricos.
O dano da irradiação do feixe de elétrons da amostra de cabelo é reduzido em baixa voltagem enquanto o efeito de carga é eliminado.
> Baixo vácuo
Os materiais dos tubos de fibra filtrados são pouco condutores e carregam significativamente em alto vácuo. No baixo vácuo, a observação direta de amostras não condutoras pode ser obtida sem revestimento.
> Grande campo de visão
Amostras biológicas, usando um grande campo de observação, podem facilmente obter a morfologia geral e detalhes da estrutura da cabeça das joaninhas, mostrando análise em escala cruzada.
> Navegação e navegação Anticolisão
Navegação óptica
Clique onde deseja ver e navegue com mais facilidade.
Uma câmera no compartimento é padrão e pode tirar fotos em HD para ajudar a localizar amostras rapidamente.
Navegação rápida por gestos
Navegação rápida clicando duas vezes para mover, botão do meio do mouse para arrastar e quadro para ampliar.
Exp: Frame Zoom - para obter uma visão ampla da amostra com navegação de baixa ampliação, você pode enquadrar rapidamente a área da amostra em que está interessado para melhorar a eficiência.
Anti-colisão
Adote uma solução anticolisão multidimensional.
1. Insira manualmente a altura da amostra: controle com precisão a distância entre a amostra e a objetiva.
2. Reconhecimento de imagem e captura de movimento: monitore a imagem em tempo real.
3.*Hardware: pare o motor no momento da colisão.
> Funções características
Dispersão Assistida Inteligente
Reflita visualmente o grau de dispersão de todo o campo de visão e ajuste rapidamente a dispersão para melhor clicando no ponto claro com o mouse.
Auto-foco
Foco de um botão para imagens rápidas.
Dissipação Automática
Dissipação com um clique para melhorar a eficiência do trabalho.
Contraste de brilho automático
Contraste de brilho automático com um clique para ajustar imagens apropriadas em tons de cinza.
Imagem Simultânea de Múltiplas Informações
O software SEM3200 oferece suporte à alternância com um clique entre SE e BSE para imagens mistas. Ambas as informações morfológicas e composicionais da amostra podem ser observadas ao mesmo tempo.
Ajuste rápido de rotação de imagem
Arraste uma linha para ajustar a posição.
