FIB-SEM | DB500

Microscópio SEM de filamento de tungstênio de alto desempenho com excelentes recursos de qualidade de imagem em modos de alto e baixo vácuo O CIQTEK SEM3200 Microscópio SEM tem uma grande profundidade de campo com uma interface amigável para permitir que os usuários caracterizem amostras e explorem o mundo da imagem e análise microscópica.

Microscopia Eletrônica de Varredura de Emissão de Campo de resolução ultra-alta (FESEM): 0,6 nm@15 kV e 1,0 nm@1 kV O CIQTEK SEM5000X FESEM de resolução ultra-alta utiliza o processo de engenharia de coluna atualizado, tecnologia “SuperTunnel” e design de lente objetiva de alta resolução para melhorar a resolução de imagens de baixa tensão. As portas da câmara de amostra FESEM SEM5000X se estendem até 16, e a trava de carga para troca de amostra suporta tamanho de wafer de até 8 polegadas (diâmetro máximo de 208 mm), expandindo significativamente as aplicações. Os modos de digitalização avançados e funções automatizadas aprimoradas proporcionam desempenho mais forte e uma experiência ainda mais otimizada.

Microscópio eletrônico de varredura de emissão de campo analítico (FESEM) equipado com um canhão eletrônico de emissão de campo Schottky de alto brilho e longa vida útil Com o projeto de coluna óptica eletrônica condensadora de três estágios para correntes de feixe de até 200 nA, o SEM4000Pro oferece vantagens em EDS, EBSD, WDS e outras aplicações analíticas. O sistema suporta o modo de baixo vácuo, bem como um detector de elétrons secundários de baixo vácuo de alto desempenho e um detector de elétrons retroespalhados retrátil, que pode ajudar a observar diretamente amostras pouco condutoras ou mesmo não condutoras. O modo de navegação óptica padrão e uma interface de operação do usuário intuitiva facilitam o trabalho de análise.

CIQTEK SEM5000Pro é um microscópio eletrônico de varredura de emissão de campo (FESEM) com capacidade de imagem e análise de alta resolução, apoiado por funções abundantes, benefícios de design avançado de coluna óptica eletrônica, com tecnologia de túnel de feixe de elétrons de alta pressão (SuperTunnel), baixa aberração e Lente objetiva MFL, obtém imagens de baixa tensão e alta resolução, a amostra magnética também pode ser analisada. Com navegação óptica, funcionalidades automatizadas, interface de usuário de interação humano-computador cuidadosamente projetada e operação e processo de uso otimizados, não importa se você é um especialista ou não, você pode começar rapidamente e concluir trabalhos de análise e imagem de alta resolução.

Microscópio eletrônico de varredura de alta velocidade para imagens em escala cruzada de espécimes de grande volume Tecnologias de instalações CIQTEK HEM6000, como pistola de elétrons de corrente de feixe grande de alto brilho, sistema de deflexão de feixe de elétrons de alta velocidade, desaceleração de estágio de amostra de alta tensão, eixo óptico dinâmico e lentes objetivas combinadas eletromagnéticas e eletrostáticas de imersão para alcançar alta -acelera a aquisição de imagens, garantindo resolução em nanoescala. O processo de operação automatizado foi projetado para aplicações como um fluxo de trabalho de imagem de alta resolução em grandes áreas mais eficiente e inteligente. A velocidade de imagem pode atingir mais de 5 vezes mais rápida do que um microscópio eletrônico de varredura de emissão de campo convencional (fesem).